半導(dǎo)體現(xiàn)場檢查金屬鹵素高亮點光源裝置
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半導(dǎo)體現(xiàn)場檢查金屬鹵素高亮點光源裝置
日本 Inflidge（インフリッジ）的 MHB-400 是專為 半導(dǎo)體晶圓/封裝外觀檢查 設(shè)計的高亮度 金屬鹵化物光源（Metal-Halide） 照明裝置，屬于其 “MHB Series" 的經(jīng)典機(jī)型，廣泛用于 FAB、OSAT、FPD、精密組裝 等現(xiàn)場。日本 Inflidge（インフリッジ）的 MHB-400 是專為 半導(dǎo)體晶圓/封裝外觀檢查 設(shè)計的高亮度 金屬鹵化物光源（Metal-Halide） 照明裝置，屬于其 “MHB Series" 的經(jīng)典機(jī)型，廣泛用于 FAB、OSAT、FPD、精密組裝 等現(xiàn)場。日本 Inflidge（インフリッジ）的 MHB-400 是專為 半導(dǎo)體晶圓/封裝外觀檢查 設(shè)計的高亮度 金屬鹵化物光源（Metal-Halide） 照明裝置，屬于其 “MHB Series" 的經(jīng)典機(jī)型，廣泛用于 FAB、OSAT、FPD、精密組裝 等現(xiàn)場。日本 Inflidge（インフリッジ）的 MHB-400 是專為 半導(dǎo)體晶圓/封裝外觀檢查 設(shè)計的高亮度 金屬鹵化物光源（Metal-Halide） 照明裝置，屬于其 “MHB Series" 的經(jīng)典機(jī)型，廣泛用于 FAB、OSAT、FPD、精密組裝 等現(xiàn)場。日本 Inflidge（インフリッジ）的 MHB-400 是專為 半導(dǎo)體晶圓/封裝外觀檢查 設(shè)計的高亮度 金屬鹵化物光源（Metal-Halide） 照明裝置，屬于其 “MHB Series" 的經(jīng)典機(jī)型，廣泛用于 FAB、OSAT、FPD、精密組裝 等現(xiàn)場。
型應(yīng)用
- 晶圓微劃痕、顆粒、缺角 宏觀檢查
- COF/TAB 引線、Bump 異物/壓痕
- 封裝樹脂 填充不足、溢膠
- FPC 焊盤、金手指 污染、氧化
- 與 顯微鏡、線掃相機(jī)、自動外觀機(jī) 組合
型應(yīng)用
- 晶圓微劃痕、顆粒、缺角 宏觀檢查
- COF/TAB 引線、Bump 異物/壓痕
- 封裝樹脂 填充不足、溢膠
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- 與 顯微鏡、線掃相機(jī)、自動外觀機(jī) 組合
型應(yīng)用
- 晶圓微劃痕、顆粒、缺角 宏觀檢查
- COF/TAB 引線、Bump 異物/壓痕
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